Das Messgerät Hiresta-UX dient zur Messung von Halbleitern und Nichtleitern bzw. Isolatoren im hochohmigen Bereich: Messbereich von 10³ – 10¹⁴ Ω x cm.

Es ist ein äußerst präzises Messgerät für die Messung des

• Widerstandes [Ω]
• Oberflächenwiderstandes [Ω/□]
• Volumenwiderstandes  [Ω∙cm]

unterschiedlichster Substanzen und Materialien aller Formen und Größen.

Das Hiresta-UX arbeitet mit konzentrischen Ringelektroden-Messköpfen und der Konstantspannungs-Methode, wobei eine Messspannung von bis zu 1000 V am Messkopf möglich ist.
Die angelegte Spannung wird durch eine integrierte „Auto Sweep“ Funktion in 29 Schritten an den Widerstand angepasst werden.

Der für die Messung von spezifischen Widerständen benötigte Korrekturfaktor, ist ausschließlich von der Geometrie der Messkopf-Elektroden abhängig und erfolgt automatisch. Somit ist eine Korrektur der Messposition nicht erforderlich. Das Messgerät verfügt über eine eingebaute Switch-Box , die ein schnelles Umschalten der Messungen von Oberflächenwiderstand zum Volumenwiderstand ermöglicht.

Der spezifische Volumenwiderstand [Ω∙cm] wird in Verbindung mit dem UFL Table (RMJ 354) gemessen. Dieses UFL Table besitzt zwei Wende-Oberflächen: eine leitende Metalloberfläche und eine isolierende Teflon beschichtete Oberfläche.

Da geringe Ströme sehr leicht durch äußere Einflüsse und Leck-Ströme verfälscht werden können, verwendet man eine spezielle Schutzschirmtechnik (Guard-Technik). Bei dieser Technik wird eine dritte Verbindung zwischen Messobjekt und Messgerät benötigt. Der zusätzliche Anschluss hat Massepotential und schafft ein durchgängiges Bezugspotential zur Abschirmung, ohne die Strommessung zu verfälschen. In diesem Fall dient der äußere Ring der Ringelektroden Messköpfe als Schutzelektrode.

Das Leitfähigkeitsmessgerät Hiresta-UX überzeugt durch sein kompaktes Design, einen farbiges 7.5″ TFT Touch-Display und eine benutzerfreundliche Menüführung.

 

Anwendung:

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Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle
Für Messungen angelehnt an die ASTM D257 / ISO 2951 / JIS K 6911 Norm

• antistatische Materialien
• Kunststoffe, Glasfaserverstärkte Kunststoffe
• Schaumstoffe, Gummimatten
• Papier, Verpackungsmaterialien
• Farben, Pasten, Lacke
• Fasern, Kleidung, Stoffe
• Klebstoffe, Schmierfette
• Beton, Keramiken, Porzellan
• Filmmaterial, Folien
• Bodenbeläge
• Glas
• etc.

 

Spezifikationen

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Artikelnummer	Hiresta-UX MCP-HT800
Messmethode	Ring-Messkopf, Konstantspannung-Methode, Kriechstrom
Messbereich [Ω]	10 3 - 10 14
Display	7.5" TFT LCD touch panel, 640 x 480 pixel
Spannungsversorgung	AC 85-264V / 47-63Hz / 92VA
Komparator	Manuell einstellbarer Minimal- und Maximalwert
Datenausgabe	USB
Abmessung	330mm x 270mm x 113mm (B x T x H)
Gewicht	2,4 kg
Lieferumfang	URS Messkopf RMH214
	Messkopfprüfer RMH327 (500MΩ)
	Schutzhandschuhe
	Bedienungsanleitung

 

Messbereich und Messgenauigkeit

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1 ~ 10V	10 3 ~ 109 [Ω]: ±2%      1010 [Ω]: ±3%
20 ~ 400V	106 ~ 1010 [Ω]: ±2%     1011 [Ω]: ±3%
500 ~ 900V	107 ~ 1010 [Ω]: ±2%     1011 [Ω]: ±3%      1012 [Ω]: ±4%
1000V	108 ~ 1010 [Ω]: ±2%     1011 [Ω]: ±3%      1012 [Ω]: ±4%    1013 [Ω]: ±5%      1014[Ω]: ±12%

 

Zubehör

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Das Hiresta-UX kann mit folgendem Zubehör ergänzt werden:

Messköpfe

Messkopf / Probe	Bild	d1 (cm)	d2 (cm)	d3 (cm)	Anwendung / Application	Messkopfprüfer / Probe Checker
URS Messkopf RMH214		0.59	1.1	1.78	Standardzubehör standard accessory	RMH328
UR-SS Messkopf RMH215		0.3	0.6	1.0	kleinste Proben smallest samples	RMH327
UR Messkopf RMH212		1.6	3.0	4.0	größere Oberflächen larger surfaces	RMH326
UR-100 Messkopf RMH211		5.0	5.32	5.72	Messbereich bis 1015 Measuring Range up to 1015	RMH321
UA Messkopf RMH211		2mm Pinspitze	20mm Pinabstand	40 x 30 x 42 mm	dünne & lange Proben thin & long samples	RMH325

Messkopfhalter für URS-Messkopf (RMJ-360)

Der Messkopfhalter URSJG fixiert und drückt, durch sein Gewicht, den URS Messkopf zuverlässig auf der Probe. Vorteil ist, dass der Messkopf während der Messung nicht von Hand gehalten werden muss.

 

UFL Table (RMJ 354)

Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode (Maße: 240mm x 140mm).

 

Video

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Das Loresta GX  wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt.
Messbereich: 10^-4 – 10⁷ Ω x cm.

Es dient zur Messung im niederohmigen Bereich:

• des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□)
• des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm)
• der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm)

Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode. Diese Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren. Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.

Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstandbestimmt werden. Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.

Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich. Das Loresta-GX verfügt zudem über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafernmöglich sind.
Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind.
Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.

Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden.

Anwendung

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Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle

Für Messungen angelehnt an die ASTM D 991, ISO 2878,  ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637 Norm

• Farben, Pasten, Lacke, Druckerfarbe
• Fasern, Textilien, Smart Textiles
• Kunststoffe, Elektrisch leitfähige Kunststoffe z.B. Polyethylen (PE), Polypropylen (PP)
• Polymere, Gummi, Silikon
• Filmmaterialien
• metallische dünne Filme, metallbedampfte Folien
• Widerstandspasten
• amorphes Silizium / Silizium Wafer
• antistatische Materialien
• EMV-Schirmungsmaterialien
• ITO Glas, beschichtetes Glas
• passivierte Metalle
• Magnesiumlegierungen
• Beschichtetes Blech, Stahl, Aluminium
• Graphite
• etc.

 

Spezifikationen

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Artikelnummer	Loresta-GX MCP-T700
Messmethode	4-Punkt-Messmethode, Konstantstrom-Methode
Messbereich	10-4 - 107 Ω x cm
Messmodus	Auto-Funktion: Auto-Hold / Timer Mode - Spezieller Silicone Mode
Display	7.5" TFT LC-Touch Display, 640 x 480 Pixel
Spannungsversorgung	AC 85-264V / 47-63Hz / 40VA
Schnittstelle für Datenausgabe	USB
Abmessung	320mm x 285mm x 110mm (B x T x H)
Gewicht	2,4 kg
Lieferumfang	ASP Messkopf RMH110
	Messkopfprüfer RMH304 (1.0Ω)
	Bedienungsanleitung

 

Messbereich & Messgenauigkeit

	Stromversorgung
Range	1A	100mA	10mA	1mA	100μA	10μA	1μA	0.1μA
10-4	±(2.0% + 30dgt)
10-3	±(2.0% + 20dgt)	±(2.0% + 20dgt)
10-2	±(1.0% + 5dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
10-1	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
100		±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
101			±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
102				±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
103					±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
104						±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)
105							±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)
106								±(1.0% + 3dgt)
107								±(2.0% + 5dgt)

 

Zubehör

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Messköpfe

Bild	Messkopf	Anwendung	Pinabstand	Pinspitze Ø	Federdruck	Messkopfprüfer
	ASP Messkopf RMH110	Standardzubehör	5.0 mm	0.37 mm	210 g/pin	RMH304
	ESP Messkopf RMH114	ungleichförmige Proben	5.0 mm	2 mm	240 g/pin	RMH304
	LSP Messkopf RMH116	weiche Oberflächen	5.0 mm	2 mm	130 g/pin	RMH304
	TFP Messkopf RMJ217	dünne Filme	1.0 mm	0.15 mm	50 g/pin	RMH312
	QP2 Messkopf RMH115	kleinste Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin
	PSP Messkopf RMH112	kleine & dünne Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin	RMH311
	BSP Messkopf RMH111	große Proben	2.2 mm	0.37 mm	210 g/pin
	NSCP Messkopf RMJ202	harte Oberflächen Siliziumwafer	1.0 mm	0.04 mm	250 g/pin	RMH312

 

UFL Table (RMJ 354)

Isolierender Untergrund für die Hiresta und Loresta Serie mit 2 Wende-Oberflächen (Metalloberfläche / Teflon beschichtete Oberfläche) zur Messung des Volumenwiderstand. Die Metalloberfläche aus Edelstahl dient als zweite Elektrode.

Video

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Das mobile Hand-Messgerät Loresta AX wird zur Messung von Leitern und Halbleitern im unteren Widerstandsbereich eingesetzt. Messbereich: 10^-2 – 10⁶ Ω.

Es eignet sich zur einfachen Prozess- bzw. Qualitätskontrolle.

Zur Bestimmung der spezifischen Widerstände wird ein fester Korrekturfaktor verwendet, der eine für die Prozess- bzw. Qualitätskontrolle hinreichend genaue Berechnung erlaubt.

Das Messgerät arbeitet nach der 4-Punkt-Messmethode. Diese Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren und wurde entwickelt um den Einfluss von Kontaktwiderständen zu eliminieren. Die Messköpfe bestehen aus vier nadelähnliche Elektroden. Zur Vereinfachung der Messmethode und Berechnung der Korrekturfaktoren stehen alle vier Elektroden in einem äquidistanten Abstand zueinander.

Die Elektroden sind meist kollinear angeordnet, jedoch sind auch andere Anordnungen, wie zum Beispiel die Quadratische, zulässig. Die beiden äußeren Elektroden führen einen eingeprägten Gleichstrom. Die beiden inneren Elektroden greifen die Spannung an der Oberfläche der Probe ab. Somit kann der elektrische Widerstandbestimmt werden. Die spezifischen Widerstände ergeben sich durch Anwendung des Korrekturfaktors und Einbeziehung der Dicke der Musterprobe.

Bis zu 1000 Messergebnisse werden automatisch gespeichert und können via USB-Stick transportiert werden.

 

Anwendung

Forschung & Entwicklung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle

Leitfähige Materialien:

• Farben, Pasten, Lacke
• Kunststoffe, Gummi
• Gewebe, Fasern
• Filmmaterialien, Folien
• Keramik
• metallische dünne Filme
• amorphes Silizium
• antistatische Materialien
• EMV-Bleche/ Materialien
• ITO Glas, beschichtetes Glas
• beschichtete Materialien, Magnesiumlegierungen, verzinkte Stahlplatten

 

Spezifikation

Artikelnummer	Loresta-AX MCP-T370
Messmethode	4-Pin Messkopf, Konstantstrom-Methode
Messbereich	10-2 - 106
Display	LCD
Spannungsversorgung	AC 90-264V / 47-63Hz / Nickel-Hydrogen Battery
Schnittstelle für Datenausgabe	USB
Abmessung	85mm x 228mm x 65mm
Gewicht	0,4 kg
Standardzubehör	ASP Messkopf RMH110
	Anleitung

Messbereich

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Messbereich [Ω]	10 -2	10 -1	10 0	10 1	10 2	10 3	10 4	10 5	10 6
Strom	100mA	100mA	10mA	10mA	1mA	1mA	100μA	10μA	1μA
Messgenauigkeit	± 1.0% ± 20dgt.	± 1.0% ± 5dgt.	± 0.5% ± 5dgt.	± 0.5% ± 3dgt.	± 0.5% ± 3dgt.	± 0.5% ± 3dgt.	± 0.5% ± 3dgt.	± 0.5% ± 3dgt.	± 2.0% ± 5dgt.

Zubehör

Messköpfe

Bild	Messkopf	Anwendung	Pinabstand	Pinspitze Ø	Federdruck	Messkopfprüfer
	ASP Messkopf RMH110	Standardzubehör	5.0 mm	0.37 mm	210 g/pin	RMH304
	ESP Messkopf RMH114	ungleichförmige Proben	5.0 mm	2 mm	240 g/pin	RMH304
	LSP Messkopf RMH116	weiche Oberflächen	5.0 mm	2 mm	130 g/pin	RMH304
	TFP Messkopf RMJ217	dünne Filme	1.0 mm	0.15 mm	50 g/pin	RMH312
	QP2 Messkopf RMH115	kleinste Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin
	PSP Messkopf RMH112	kleine & dünne Proben	1.5 mm	0.26 mm	70 g/pin	RMH311
	BSP Messkopf RMH111	große Proben	2.2 mm	0.37 mm	210 g/pin
	NSCP Messkopf RMJ202	harte Oberflächen Siliziumwafer	1.0 mm	0.04 mm	250 g/pin	RMH312

Pulvertechnologie hat eine lange Geschichte in verschiedenen Bereichen, wie der Chemie-Industrie, der Lebensmittel-, der Pharma-, und der Metallindustrie. Die Messung physikalischer Eigenschaften von Pulver ist sehr schwierig und jeder Industriezweig bedient sich verschiedener Beurteilungsverfahren.

Das Pulvermesssystem PD-600 wurde entwickelt, um die physikalischen Eigenschaften von Pulver über den spezifischen Widerstand zu bestimmen. Dieses System realisiert ein einfaches Messverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes unter kontrolliertem Druck bis zu 20kN.

Das Pulver-Messsystem besteht aus einer Druckkammer und einer Hydraulikeinheit. Das zu messende Pulver wird dabei in spezielle Messköpfe gepresst. Die Bestimmung des spezifischen Widerstands erfolgt mit den Geräten HIRESTA UX bzw. LORESTA GX nach den bekannten Verfahren.

• Messgerät Hiresta: hochohmiger Messbereich 10³-10¹⁴Ω, Ringelektroden Messmethode mit bis zu 1000 V
• Messgerät Loresta: niederohmiger Messbereich 10^-4-10⁷Ω, 4-Punkt Messmethode

Dadurch entsteht die Möglichkeit, pulvrige Messobjekte umfassend zu analysieren.

1. Die pulvrige Probe wird mit Unterstützung einer integrierten Vakuumpumpe in die Zylinderform der Messkopfeinheit gefüllt. Diese Pumpe gewährleistet zudem eine gute Wiederholbarkeit der Schüttdichte.
2. Ein hochpräziser Drucksensor in Verbindung mit den innovativen Messsonden (4-Pin / Ringelektrode) ermöglicht präzise Messergebnisse bei einer sehr guten Wiederholbarkeit
3. Der Pressruck, der auf das Messobjekt durch die automatische Hydraulikpumpe angewandt wird, wird vorab eingegeben. Messschritte können im Bereich von 0.01 – 20kN liegen.
4. Die Software zeichnet automatisch den Pressdruck, die Schüttdichte (Probendicke in mm) und den Widerstand (Ω) der Probe in einer Tabelle auf.
5. Die Daten können im Anschluss der Messung zusätzlich in ein Diagramm transportiert werden, das die elektrische Leitfähigkeit der Messprobe in Abhängigkeit vom Pressdruck anzeigt.

 

Anwendung

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Forschung & Entwicklung, Batterieforschung, Produktionstechnik, Qualitätskontrolle, u.a. in der Batterie-, Automobil- und Pharmabranche

Pulvrige Substanzen von Kohlenstoffprodukten:

• Materialien für Elektroden wiederaufladbarer Batterien, Materialien für Kondensatoren
• Widerstände und Isolatoren in der Elektronik
• diverse Koksarten, Graphit, Ruß, Kohlenstoff-Faser, Kohlenstoff-Nano-Faser, etc.
• Pulvermessung von u.a.: Graphit, Carbon, Kohlenstoff
• Lithium Metalloxide

Metallische Pulver:

• Materialien für Batterieelektroden, dünne Filmmaterialien z.B. Kupferpulver oder ITO-Pulver
• Metall-Pulverwerkstoffe: Aluminiumoxid, Bronze, Kupfer, Zink
• Leitpasten und elektrisch leitende Farben

Andere:

• Thermoplastische Pulver
• Staub, Stäube, Standardstäube, Substrate
• Pigmente: Effektpigmente, Metallpigmenten, Farbpigmente
• Druckertoner, magnetische Substanzen wie Ferrit
• Beschichtungen für Folien, Polyesterfolien, PET Folien, Etikettenfolien
• Lebensmittel, pharmazeutische Substanzen

 

Spezifikationen

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Messmethode	Konstantstrom / -spannung Methode
Messgeräte	Niederohmiger Bereich - Loresta-GX ( 10-4-107 Ω) Hochohmiger Bereich - Hiresta-UX ( 103-1014 Ω)
Spannungsversorgung	AC 90 - 240V / 50 - 60Hz
Max. Belastung der Pulvereinheit	20kN (ca. 60MPa)
Hydraulikeinheit	Öldruck (manuelle Bedienung)
Messkopfeinheit	20mm (Ø) x 50mm (L)
Messkopftypen	4-Pin Elektrode (Elektrodenabstand: 3mm) Ringelektroden (Ø 20mm)
Abmessung	430mm x 230mm x 490mm (B x T x H)
Gewicht	Haupteinheit 56kg, Hydraulikeinheit 22kg
Erforderliches Zubehör	Window-PC mit Excel

 

Video

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Spezifische Widerstand

Der spezifische Widerstand stellt den absoluten und tatsächlichen Materialwert dar. Im Zuge des wissenschaftlichen und technischen Fortschritts hat der Bedarf an einfachen, schnellen und präzisen Klassifizierungen der Materialeigenschaften in unterschiedlichen Bereichen zugenommen. Nach der herkömmlichen Methode wurde der elektrische Widerstand (Ω) zu diesem Zweck benutzt. Jedoch ändert sich der Widerstand durch die Art, Form und Größe des Materials sowie die Position des Messpunktes.

Aus diesen Grund benutzt die anerkannte Messmethode den spezifischen Widerstand (Ω∙cm), der die absoluten und tatsächlichen Materialwerte darstellt.

Der spezifische Widerstand wird einfach berechnet, indem man den gemessenen Widerstand (Ω) mit einem Resitivitätskorrekturfaktor (engl.: Resitivity Correction Factor, RCF) multipliziert.
Diese können nach zwei verschiedenen Messverfahren zur Objektcharakterisierung bestimmt werden: Der 4-Punkt- und der Ringelektroden-Messmethode.

Die 4-Punkt-Messmethode wurde 1954 erstmals von L.B. Valdes, zur Messung von Halbleitern beschrieben. 1957 wurden seine Aufzeichnungen von F.M. Smits im Hinblick auf die Korrekturfaktoren zur Bestimmung der spezifischen Größen erweitert. Anschließend folgten weitere Ergänzungen zu diversen Spezialfällen (z.B. halbkreisförmige Muster).

In diesen Arbeiten wurden grundsätzlich stark idealisierte Objekte beschrieben und vermessen. Meist rechteckige oder kreisförmige Muster. Die Messposition lag vorzugsweise in der Mitte des Musters bzw. an Stellen, die eine einfache Korrektur der elektrischen Größe erlauben. Für diese idealisierten Objekte wurde ein allgemeingültiger Korrekturfaktor entwickelt mit dem die spezifischen Größen aus dem elektrischen Widerstand bestimmt werden können. Diese Korrektur ist notwendig, da sich das elektrische Feld, je nach Geometrie der Probe bzw. Messposition verändert.

Die Leitfähigkeitsmessgeräte der Firma Nittoseiko Analytech arbeiten auf Basis der beiden Messmethoden, jedoch mit wesentlich komplexeren Korrekturfaktoren, die eine Korrektur der spezifischen Größen auf Mustern unterschiedlicher Abmessungen, mit frei wählbaren Messpositionen erlaubt. Dies gestattet eine vielseitige Verwendung in unterschiedlichen Bereichen der Industrie.

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Korrekturfaktor (RCF)

Der Korrekturfaktor (RCF) verändert sich mit den Abmessungen des Messobjektes. Sind die Größe des Messobjektes oder die Messposition bei der 4-Pin Messkopf Methode nicht fest, so ändert sich die dem Objekt zugeführte elektrische Energie mit der Objektgröße und der Messposition. Ist die Objektgröße klein oder die Messposition in Kantennähe, beobachtet man einen größeren Ausschlag des elektrischen Feldes, was einen höheren Widerstand zur Folge hat (siehe Verteilung der elektrischen Energie in einem Messobjekt). Dies wird verursacht durch die elektrische Energie, die sich in dem Messobjekt befindet.

Die Korrekturfaktoren RCF (S) und RCF (V) für den Ringelektroden Messkopf werden mithilfe der Elektrodendurchmesser bestimmt. In den Messgeräten sind die Korrekturfaktoren für die unterschiedlichen Messköpfe registriert, sodass bei der Auswahl eines Messkopfes auch der entsprechende Korrekturfaktor angezeigt wird.

Der Korrekturfaktor wird verwendet um korrekte Werte für den Volumen- und den Oberflächenwiderstand zu erhalten. Dies geschieht über die Prognostizierung solcher Unterschiede im Ausschlag der elektrischen Energie. Das elektrische Potential φ(r) eines beliebigen Punktes in einem Objekt kann durch Lösen der Poisson-Gleichung unter bestimmten Bedingungen berechnet werden.

Poisson’sche Gleichung: ∇2 Φ(r) = 2 ρv I [ δ (r-rD) – δ(r-rA)]

Das mobile Messgerät Loresta-AX verwendet eine festen Korrekturfaktor, der eine für die Prozess- bzw. Qualitätskontrolle hinreichend genaue Berechnung erlaubt.

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Elektrische Widerstand (R)

Das ohmsche Gesetz sagt aus, dass der Strom (I) durch einen Leiter zwischen zwei Punkten proportional zu dem Spannungsabfall (U) und umgekehrt proportional zum Widerstand (R) zwischen den beiden Punkten ist.

Widerstand R [Ω] = U / I

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Spezifische elektrische Leitfähigkeit (σ)

σ ist umgekehrt proportional zum spezifischen Volumenwiderstand.
Die Einheit ist S/cm.
Spezifische Leitfähigkeit s [S/cm] =(1 / pv)

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Volumenwiderstand

pv bezeichnet den Widerstand eine Materialprobe pro Volumeneinheit und wird auch spezifischer Widerstand genannt. Der spezifische Volumenwiderstand (Ω·cm) ist der meistgebrauchte Ausdruck für die Materialklassifizierung. Jedes Material hat einen eindeutigen charakteristischen Wert für den Volumenwiderstand. Diese physikalische Größe ist spezifisch für eine Substanz (aufgelistet in wissenschaftlichen Tabellenbüchern), und dient als absolutes Maß für die Leitfähigkeit vieler Materialien.
Volumenwiderstand pv [Ω·cm] = R [Ω] · RCF · t [cm]

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Oberflächenwiderstand

Der Oberflächenwiderstand hingegen (Ω／□，Ω／sq.) ist der Widerstand pro Flächeneinheit, auch bezeichnet als Plattenwiderstand und findet Anwendung im Bereich der Beschichtung, Isolation, etc..

Ergänzend zu den Leitfähigkeitsmessgeräten bieten wir Ihnen einen umfassenden Rundum-Service an:

• Vorab-Präsentation und Demonstration in unserem Labor in Willich / Deutschland oder vor Ort beim Kunden
• Beratung und Bedarfsanalyse
• Inbetriebnahme und Schulung der Geräte vor Ort
• Wartungs- und Serviceverträge

Bitte kontaktieren Sie uns telefonisch unter 02154 – 81 25 0
oder via Email: info@nh-technology.de.

Wir beraten Sie ausführlich und erstellen Ihnen ein individuelles Angebot.